在過去二十多年的時(shí)間，泰克旗下吉時(shí)利源表一直引領(lǐng)科技前沿技術(shù)，為各行業(yè)工程師驗(yàn)證新靈感。從1989年吉時(shí)利發(fā)明了第一臺(tái)數(shù)字源表SMU到現(xiàn)在，吉時(shí)利源表市場占有率高達(dá)80%，成為源表市場的主要品牌。泰克科技官網(wǎng)最新發(fā)布科技生活，「源」自泰克，一站式提供泰克吉時(shí)利源表的測試解決方案、成功案例、應(yīng)用文章下載、相關(guān)產(chǎn)品等，以及春色買“源”的優(yōu)惠促銷活動(dòng)。

　　吉時(shí)利SMU采用獨(dú)特的四象限設(shè)計(jì)，在一、三象限作為源向負(fù)載提供功率，而在二、四象限作為負(fù)載吸收功率，提供精確電壓或電流的同時(shí)，可以測量電壓或電流。吉時(shí)利SMU在一臺(tái)外形緊湊的儀器中集成五臺(tái)儀器，包括數(shù)字萬用表 (DMM)、電壓源、電流源、電子負(fù)載、脈沖發(fā)生器，由于其通用性和高精度，SMU比五臺(tái)儀器的組合起來更強(qiáng)大。

　　吉時(shí)利SMU應(yīng)用分為六個(gè)類型：繪制圖形、基本源測、搭建系統(tǒng)、大功率、高密度和光學(xué)測試。其覆蓋的人群，從大學(xué)畢業(yè)生到大學(xué)教授，從物理材料學(xué)家到電子器件科研人員，從半導(dǎo)體器件工程師到電子研發(fā)工程師，從硬件工程師到可靠性測試工程師。

　　搭建一流的材料測試實(shí)驗(yàn)室。

　　如今，消費(fèi)者要求電子產(chǎn)品更小、更輕、更便宜、功能更強(qiáng)大、運(yùn)行時(shí)間更長。 為了解決這些相互沖突的需求，研究人員需要開發(fā)新材料，使現(xiàn)有設(shè)備小型化并提高設(shè)備效率。 人們努力降低功耗并提高設(shè)備密度和性能，推動(dòng)了對具有高載流子遷移率的石墨烯和其他二維 (2-D) 固體及有機(jī)半導(dǎo)體和納米級設(shè)備的研究。

　　基于新型電解質(zhì)和電極材料的高效電池對延長設(shè)備工作時(shí)間至關(guān)重要。砷化鎵 (GaAs) 和碳化硅 (SiC) 等材料對未來的電力傳輸技術(shù)至關(guān)重要。 材料研究也是提高太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率和功率輸出的關(guān)鍵。要提高激光二極管的效率以增強(qiáng)數(shù)據(jù)傳輸能力，必須研究新的材料和結(jié)構(gòu)。超靈敏測量（從測量飛秒級泄漏電流到用于評估高載流子遷移率材料的電阻率的微歐姆級電阻測量）是材料表征應(yīng)用中的核心。

　　中山大學(xué)半導(dǎo)體材料與器件特性表征實(shí)驗(yàn)室，選用了吉時(shí)利2450源表測試平臺(tái)。2450源表5英寸高分辨率電容觸摸屏圖形用戶界面可以幫助老師和學(xué)生直接在前面板進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，并顯示IV曲線。其測試功能強(qiáng)大可直接繪制IV曲線、測試精度高可以測到晶圓級器件、簡便易用且方便快捷，可以很好的滿足實(shí)驗(yàn)室需求。

　　在南京大學(xué)主要用于薄膜晶體管和半導(dǎo)體材料測試，通過2612B源表加背柵和源的電壓，進(jìn)行多路SMU測試，可以實(shí)現(xiàn)fA量級的電流分辨率，同時(shí)通過2636B源表來回讀低電流信號(hào)。

　　3D 感測技術(shù)可增強(qiáng)人臉識(shí)別功能。

　　3D 感測是一種深度感測技術(shù)，可增強(qiáng)攝像機(jī)的面部和對象識(shí)別功能，適用于增強(qiáng)實(shí)境、游戲、自動(dòng)駕駛以及其他廣泛應(yīng)用。一種 3D 感測方法是使用結(jié)構(gòu)光，相干紅外光通過一個(gè)結(jié)構(gòu)模式傳輸至對象，可以解碼反射光以構(gòu)造 3D 圖像。另一種 3D 感測方法是使用飛行時(shí)間 (ToF)，光源將傳輸一系列紅外光，并將使用對象反射光的光子相位差來感應(yīng)與對象的距離。

　　吉時(shí)利為iPhone 人臉識(shí)別3D sensing 功能中的3D傳感提供測試測量解決方案。支持 3D 感測技術(shù)的光設(shè)備主要包括激光二極管、高亮度 LED (HBLED) 和光電二極管 (PD)。使用吉時(shí)利儀器在基于二極管的設(shè)備上執(zhí)行了電氣測試。吉時(shí)利源測量單元儀器可執(zhí)行光強(qiáng)、正向電壓、激光門限電流、量子效率、暗電流、“扭結(jié)”或扭結(jié)測試的存在、斜率效率、熱敏電阻、溫度、電容以及 L-I-V 脈沖測試等電測試。