《電子技術應用》
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基于顯微成像系統最優聚焦函數選取
2023年電子技術應用第5期
呂美妮1,2,甘輝1,2,王奎奎1,2,彭國晉1,2
(1.梧州學院 電子與信息工程學院,廣西 梧州 543002;2.廣西機器視覺與智能控制重點實驗室,廣西 梧州 543002)
摘要: 與光學成像系統不同,光學顯微的成像系統景深較小,在聚焦過程中的主要核心問題在于聚焦評價函數的選取。針對目前常用的8種聚焦評價函數進行實驗,并對聚焦評價曲線進行定性分析,采用靈敏度因子、清晰度度比率、平緩區波動量以及運行時間進行定量分析,結合分析數據選取出適用于顯微成像系統的最優聚焦評價函數。
中圖分類號:TP391
文獻標志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223163
中文引用格式: 呂美妮,甘輝,王奎奎,等. 基于顯微成像系統最優聚焦函數選取[J]. 電子技術應用,2023,49(5):94-98.
英文引用格式: Lv Meini,Gan Hui,Wang Kuikui,et al. Selection of optimal focusing function based on microscopic imaging system[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(5):94-98.
Selection of optimal focusing function based on microscopic imaging system
Lv Meini1,2,Gan Hui1,2,Wang Kuikui1,2,Peng Guojin1,2
(1.School of Electronic and Information Engineering, Wuzhou University, Wuzhou 543002, China; 2.Guangxi Key Laboratory of Machine Vision and Intelligent Control,Wuzhou 543002, China)
Abstract: Different from the optical imaging system, the imaging system of optical microscope has a small depth of field. The main core problem in the focusing process is the selection of focusing evaluation function. In this paper, eight commonly used focus evaluation functions are tested, and the focus evaluation curve is qualitatively analyzed. The sensitivity factor, sharpness ratio, fluctuation in gentle area and running time are used for quantitative analysis. Combined with the analysis data, the optimal focus evaluation function suitable for micro imaging system is selected.
Key words : automated and connected vehicles;accidentalgorithms;risk allocation

0 引言

光學顯微鏡作為醫療、生化、教育和檢測等行業的基礎設備,廣泛應用于生物醫學、制藥、科研、石化、地質礦產、電子工業、全自動檢測等領域。自動聚焦技術是光學顯微鏡成像系統中至關重要的技術,決定其精度、效率和穩定性。

自動聚焦技術主要分為主動式和被動式。主動式自動聚焦技術主要依靠傳感器,通過測量被測物體與成像面的距離,再依靠成像原理計算出離焦量。被動式自動聚焦技術是基于圖像處理技術,通過對采集到的圖像進行信息數據分析,判斷當前圖像的聚焦程度。由于被動式自動聚焦技術不需要添加額外的傳感器,僅利用獲取的圖像序列就能進行分析系統的聚焦程度,近年來得到廣泛的應用。被動式自動聚焦技術主要分為兩類:聚焦深度法(Depth From Focus, DFF)和是離焦深度法(Depth From Defocus, DFD)。DFD需根據成像系統建立一定的數學模型,由于各成像系統不同,建立數學模型所需的參數具有一定的差異性,故DFD在實際應用中并不廣泛。而DFF無需根據成像系統建立復雜的數學模型,只需利用圖像內容的分布特點,靈活選取聚焦窗口以及評價函數,目前適用性較高。其中,聚焦深度法主要包括3個核心問題:聚焦窗口的選取、聚焦評價函數的選擇和極值搜索算法的設計。

本文利用顯微成像系統以及自動聚焦技術,針對目前常用的8種顯微成像系統的聚焦評價函數進行靈敏度、清晰度比率、平緩區波動量和處理時間上數據分析,選取出適用于顯微成像系統的最優聚焦評價函數。



本文詳細內容請下載:http://www.rjjo.cn/resource/share/2000005318




作者信息:

呂美妮1,2,甘輝1,2,王奎奎1,2,彭國晉1,2

(1.梧州學院 電子與信息工程學院,廣西 梧州 543002;2.廣西機器視覺與智能控制重點實驗室,廣西 梧州 543002)


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