關(guān)鍵詞：
可測(cè)性設(shè)計(jì)
微系統(tǒng)芯片
摘要：提出了一種安全可控的可測(cè)性設(shè)計(jì)" title="可測(cè)性設(shè)計(jì)">可測(cè)性設(shè)計(jì)DFT（Design For Test）。DFT既能夠完成對(duì)SoC的測(cè)試，又能保障SoC自身敏感信息和關(guān)鍵技術(shù)的安全。
關(guān)鍵詞：可測(cè)性設(shè)計(jì) 集成電路 微系統(tǒng)芯片
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