摘要：一種提高TMS320LF2407A內(nèi)部A/D" title="A/D">A/D采樣精度" title="采樣精度">采樣精度和采樣范圍的方法。該方法解決了內(nèi)部A/D的采樣幅值為0～3.3V的瓶頸，并采用TMS320LF2407A內(nèi)部A/D的兩個(gè)獨(dú)立的模擬轉(zhuǎn)換通道的排序器" title="排序器">排序器SEQ1和SEQ2對(duì)采樣對(duì)象進(jìn)行分離，在不影響采樣速率" title="采樣速率">采樣速率的情況下提高A/D的采樣精度。
關(guān)鍵詞：數(shù)字信號(hào)處理器 TMS320LF2407A 數(shù)據(jù)采集
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提高TMS320LF2407A內(nèi)部AD采樣精度和范圍的方法.pdf
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