| 模擬cmos集成電路設(shè)計(design of analog | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 標簽： 集成電路 開關(guān)電容 | |
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| 文檔介紹： 模擬集成電路的設(shè)計與其說是一門技術(shù)，還不如說是一門藝術(shù)。它比數(shù)字集成電路設(shè)計需要更嚴格的分析和更豐富的直覺。嚴謹堅實的理論無疑是嚴格分析能力的基石，而設(shè)計者的實踐經(jīng)驗無疑是誕生豐富直覺的源泉。這也正足初學者對學習模擬集成電路設(shè)計感到困惑并難以駕馭的根本原因。美國加州大學洛杉機分校(UCLA)Razavi教授憑借著他在美國多所著名大學執(zhí)教多年的豐富教學經(jīng)驗和在世界知名頂級公司(ATT，Bell Lab，HP)卓著的研究經(jīng)歷為我們提供了這本優(yōu)秀的教材。本書自2000午出版以來得到了國內(nèi)外讀者的好評和青睞，被許多國際知名大學選為教科書。同時，由于原著者在世界知名頂級公司的豐富研究經(jīng)歷，使本書也非常適合作為CMOS模擬集成電路設(shè)計或相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和工程技術(shù)人員的參考書。本書介紹模擬CMOS集成電路的分析與設(shè)計。從直觀和嚴密的角度闡述了各種模擬電路的基本原理和概念，同時還闡述了在SOC中模擬電路設(shè)計遇到的新問題及電路技術(shù)的新發(fā)展。本書由淺入深，理論與實際結(jié)合，提供了大量現(xiàn)代工業(yè)中的設(shè)計實例。全書共18章。前10章介紹各種基本模塊和運放及其頻率響應(yīng)和噪聲。第11章至第13章介紹帶隙基準、開關(guān)電容電路以及電路的非線性和失配的影響，第14、15章介紹振蕩器和鎖相環(huán)。第16章至18章介紹MOS器件的高階效應(yīng)及其模型、CMOS制造工藝和混合信號電路的版圖與封裝。 | |
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