| 基于污點(diǎn)分析的二進(jìn)制程序漏洞檢測系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)* | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
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| 文檔大?。?span>1175 K | |
| 標(biāo)簽： 二進(jìn)制程序靜態(tài)分析 指針分析 污點(diǎn)分析 | |
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| 文檔介紹：針對現(xiàn)階段二進(jìn)制程序的靜態(tài)分析多依賴于人工經(jīng)驗(yàn)規(guī)則導(dǎo)致的低效率問題，以及大多數(shù)二進(jìn)制程序漏洞掃描檢測系統(tǒng)性能和可擴(kuò)展性較低的問題，設(shè)計(jì)并且實(shí)現(xiàn)了一個(gè)簡易版的基于污點(diǎn)分析的二進(jìn)制程序漏洞檢測系統(tǒng)。與現(xiàn)有的二進(jìn)制程序漏洞檢測系統(tǒng)相比，本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)改進(jìn)了Java指針分析中提出的算法，使得分析過程的數(shù)據(jù)抽象部分和指針分析部分得到了分離，進(jìn)一步簡化了污點(diǎn)分析，提高了分析的性能和可擴(kuò)展性。此外，將漏洞模式單獨(dú)抽離出來，能夠更加方便地進(jìn)行漏洞模式的自定義。 | |
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